特注品の製造実績

ホーム　>　光学機器　>　特注品の製造実績

機器サイト内検索

光学機器ＴＯＰ
応用システム > 半導体素子開発 ブローバー照射用光源 高安定モノクロ光源 MLS-1510 モノクロメータ式分光光源 フィルター式分光光源 定エネルギー分光光源 PVL-3310 光化学用光源 フォトクロミック材料研究光源 光触媒用光源 光触媒用光源システム 光重合・光化学用光源 ＵＶ光源 ソーラーシミュレータ ソーラーシミュレータ350～1100nm HAL-320 ソーラーシミュレータ 1800nm タイプ HAL-320W ソーラーシミュレータ400～1100nm HAL-C100 フィードバック式 分光光源 定エネルギー分光光源 PVL-3310 透過測定 透過測定システム 反射測定 反射測定システム
光源装置 > LED光源 光反応用LED光源 CLシリーズ ソーラーシミュレータ ソーラーシミュレータ350～1100nm HAL-320 ソーラーシミュレータ 1800nm タイプ HAL-320W ソーラーシミュレータ400～1100nm HAL-C100 水銀光源 250W水銀光源 REX-250 キセノン光源 100Wキセノン光源 LAX-C100 300Wキセノン光源 MAX-350 300Wキセノン光源 MAX-303 400W2灯式キセノン光源 MAX-400D ハロゲン光源 100Wハロゲン光源 FHL-102 単色光光源 光反応用LED光源 CLシリーズ フィルター式分光光源 高安定モノクロ光源 MLS-1510 モノクロメータ式分光光源 定エネルギー分光光源 PVL-3310 デュアル光源 デュアル光源 光化学用光源 フォトクロミック材料研究光源 光触媒用光源 光触媒用光源 光重合・光化学用光源 ＵＶ光源
光源アクセサリー > 光学フィルター 光源装置用バンドパスフィルター ライトガイド （バンドルファイバー） ストレートライトガイド 分岐ライトガイド リングライトガイド ラインライトガイド グローブボックス用ライトガイド 真空用ライトガイド 均一照明レンズユニット ロッドレンズ RLQL80-1(1倍)/RLQL80-05(0.5倍)/RLQL80-2(2倍) 直結ロッドレンズ MAX-DRLQ1-S(ストレート)/MAX-DRLQ1-B(落射) 六角ロッドレンズ HRLQ-1 高密度照明 レンズユニット 高密度照明レンズ KLQ-2.5(φ2.5) / KLQ-5(φ5) テレセントリック レンズユニット テレセントリック均一照射ユニット TOU-1-31 / TOU-05-15 光化学照明プローブ 導光ロッドプローブ LGR6-150 / LGP2-30
分光機器 > モノクロメータ シングルモノクロメータ CMS-100(f=100) シングルモノクロメータ CMS-250(f=250) マルチチャンネル分光器 マルチチャンネル分光ユニット低ノイズタイプ HSU-100F マルチチャンネル分光ユニット高感度タイプ HSU-100H
測定装置 > 透過率測定器 透過率測定器 TLV-304-BP 視感透過率チェッカー TLV-304-LC 透過率測定器赤外線近接センサ材料向け TLV-304-IR 透過測定 透過測定システム 反射測定 反射測定システム
ＦＡ支援システム > 光学式膜厚計 光学式膜厚計 OMD-1000
光学モジュール > フィルターチェンジャー 自動フィルターチェンジャー FC8-25A / FC32-25A
オプティクス > 光学フィルター 光源装置用バンドパスフィルター 均一照明レンズユニット ロッドレンズ RLQL80-1(1倍)/RLQL80-05(0.5倍)/RLQL80-2(2倍) 直結ロッドレンズ MAX-DRLQ1-S(ストレート)/MAX-DRLQ1-B(落射) 六角ロッドレンズ HRLQ-1 高密度照明 レンズユニット 高密度照明レンズ KLQ-2.5(φ2.5) / KLQ-5(φ5) テレセントリック レンズユニット テレセントリック均一照射ユニット TOU-1-31 / TOU-05-15 光化学照明プローブ 導光ロッドプローブ LGR6-150 / LGP2-30
光ファイバーライトガイド > ライトガイド （バンドルファイバー） ストレートライトガイド 分岐ライトガイド リングライトガイド ラインライトガイド グローブボックス用ライトガイド 真空用ライトガイド

トピック

国内営業部連絡先

本社
TEL:03-3909-1151
FAX:03-3909-1152
栃木
TEL:0287-37-4763
FAX:0287-37-4001
大阪
TEL:06-4807-1777
FAX:06-4807-1778

■OEM

朝日分光では、さまざまな難題を抱えるお客様からの要望に答えるため、光学ソリューション事業の一貫として特注機器の設計・製作を行っています。特注品実績の一例を下記にてご紹介させて頂きます。

■反射率・透過率・位相差測定装置

大型光学部品（液晶露光装置のミラ－等）の現品検査用として製作)

◆仕様

測定方式	変角測定(ゴニオマウント)方式･シングルモノクロ測光
測定波長範囲	250～900nm
波長分解能	1.6nm 3.2nm 4.8nm
波長送り	0.1nm
設定角度	0ﾟ～360ﾟ (投光・受光器共)
角度送り	0.01ﾟ
装置寸法	1570(W) x 2580(D) x 2830(H)mm
重量	2000kg

◆大型試料の測定に対応

　外径が1mを越え、重量が800kgを越えるような大型の光学部品の反射などを、実装前に(又は製造工程の途中で)測定したいと言う要求に応えました。
通常この種の測定には、試料を動かして反射光路の精度を出すのですが、我々は独自の発想により測定試料は搬送台の上などに寝かせた状態のまま測定でき、測定光束を任意の角度から入射できるようにしました。また部品のセッティング時に測定試料に破損などのダメージを与えない事も大切ですが、取扱者への安全上の配慮も大きな課題でありましたが、この方式によりこれらの点も解決しました。

◆独自の光路設計

　測定器の安定性を考慮しこの測定器の心臓部ともなる光源や分光器は、装置後方のベース上に設置しました。そこから出射された測定光が回転アームのシャフト内部を通りアーム先端部より出射されます。　　　　　　　
反射の測定は、試料のセッティング毎に、投光光路に対して受光光路が変化し易くそのために試料の高いセッティング精度、機械精度が要求されます。更に、大型試料の反射率などを任意の角度で測定出来るように、回転アーム（投光用、受光用）の長さを長くした事から、光路の総長は5mにも及びます。そのため熱による光路の変化を起こしにくい様な機械設計になっております。(特許取得：第3446120号)

■極紫外域　透過率測定装置

ロードロック機構を採用した、完全窒素パージによる紫外専用測定装置

◆仕様

測定項目	透過率測定
測定方式	ダブルビーム測光・シングルビーム測光　任意切換
測定波長範囲	140～300nm
分解能	1.6nm
波長送り	0.1nm
ベースライン安定性	ダブルビーム時0.05%以下
装置寸法	1900(W) x 1400(D) x 1600(H)mm
重量	1100ｋg

◆装置の特長

　紫外域の測定でオゾンや酸素による吸収の影響を無くすため、N2パージを行うことで高精度な透過率測定を可能にした装置です。また試料の出し入れ時に、パージ環境の変化を出来るだけ小さくするように測定室とは別に予備室(ロードロック室)を設けています。
測定をする時、測定室をパージして安定した状態にするまでには非常に時間が掛かります。その時間をできるだけ短縮して測定ができるように、測定試料の出し入れを行うロードロック室と測定室とを別にしました。それにより測定室は常にパージされた状態になっています。測定試料はロードロック室にセットしておき、パージを開始します。そしてある一定の酸素濃度まで下がったところで、間に設けたゲートバルブが開き、自動で測定室に搬送され測定が行われます。測定が終了すると、再びゲートバルブが開き、ロードロック室へ戻ってきます。

◆低ノイズ高精度な測定

　この装置は極紫外から紫外までの広い範囲で、ベースラインの安定性を±0.05％以下を実現するため少しでも多くの測定光量を必要とします。光源から受光器までの光路長は4mにも及び、光源の光量を効率良く測定室に導くため、さまざまな非球面鏡の内製化を行い、それらを用いる事で高性能を実現しています。

◆完全無給油のクリーン仕様

　装置内は、測定サンプルをコンタミや汚れなどの原因にならない様に、完全無給油のオイルレス構造になっており、また紫外光のソーラリゼーションによる劣化を起こす事のないよう、使用している材質にも配慮しております。

◆真空紫外測定器との違い

　測定チャンバー内を真空にすると、内部を構成している材料の内部からさまざまな汚染物質が微量ながらも真空中に浮遊してしまい、測定試料を汚す原因となってしまいます。そのためモニターサンプルであれば良いのですが、実際に使用する試料では問題が出てしまいます。そのような測定は、やはりこのパージ方式による測定の方がそのような心配はありません。

<<　企業情報TOP