反射測定システム

ホーム > 光学機器 > 応用システム > 反射測定:HSU100F + ユニット

トピック

連絡先

  • 東京本社/営業部
    TEL:03-3909-1151
    FAX:03-3909-1152
  • 東日本営業所
    TEL:0287-37-4763
    FAX:0287-37-4001
  • 大阪営業所
    TEL:06-4807-1777
    FAX:06-4807-1778

■反射測定システム

概要

マルチチャンネル分光器を使用して、サンプルの正反射率特性を測定するシステムです。

  • 5度入射した光の正反射率を測定
  • マルチチャンネル分光器で瞬時に測定
  • シャッター内蔵

システム構成

測定原理

測定はシングルビーム方式です。
左図サンプルの位置に正反射基準板をセットして、参照光を測定し、次にサンプルと交換して、反射率を測定します。サンプル面に対して5度で入射した正反射光を、受光ファイバーに取り込み測定します。

■仕様

分光器

型式 HSU-100F
分光方式 クロスドツェルニーターナー型
焦点距離(f) 100mm
F値 F3.8
波長範囲 250〜1000nm
逆線分散値 49nm/mm (546.1nm)
分解能 5.5nm (スリット0.1mm、546.1nm)
波長精度 ±1.2nm
波長再現性 ±0.6nm
グレーティング 溝本数 200本/mm
ブレーズ波長 300nm
CPU 16bit、20MHz
A/Dコンバータ 12bit
受光素子 NMOS リニアイメージセンサ 1024素子
露光時間 20msec〜30sec
積算回数 1〜15回
インターフェース USB2.0、12Mbps(Full speed)
光入力方法 ファイバー
入力電圧 定格DC5V (ACアダプタ入力範囲 AC100-120V 50/60Hz)
皮相電力 13VA以下 ※AC100V入力/50Hz時
使用環境 温度 推奨25℃(10〜35℃) *1
湿度 70%以下 ※結露なきこと
寸法 80(W)×165(D)×144(H)mm ※突起物を除く
重量 1.9kg
ソフトウェアの動作条件 Windows7 (32bit/64bit)日本語版

*1 上限付近下で使用する場合、露光時間によっては測定出来ないことがあります。

試料室

5゜反射測定ユニット
 ・適応サンプル:φ38〜100mm (φ20mm〜オプション対応可)
 <オプション>・ライトガイド(反射測定ユニット用)



高反射基準板
 ・反射面サイズ:φ50mm

低反射基準板
 ・反射面サイズ:φ50mm

光源

ご用途や波長域に応じてお選びいただけます。


ハロゲン光源

可視〜近赤外域において安定性の良い光を得ることができます。

ALA-100


キセノン光源

紫外〜近赤外域において明るい光を得ることができます。

LAX-C100

※製品仕様、アプリケーション等は改良のため、予告なく変更することがございます。ご了承ください。

Copyright(c) 2006 Asahi Spectra Co.,Ltd. All Rights Reserved